Seminarium habilitacyjne, 27.02.2019, dr inż. Ireneusz Mrozek
21-02-2019
Szanowni Państwo,
zapraszamy na seminarium habilitacyjne, które odbędzie się 27.02.2019 (środa) o godzinie w 12:15 w sali 130.
Prelegentem będzie dr inż. Ireneusz Mrozek, w związku z planowanym złożeniem wniosku o przeprowadzenie postępowania habilitacyjnego na Wydziale Informatyki Politechniki Białostockiej.
Tytuł wystąpienia: Detekcja uszkodzeń PSFk w oparciu o wieloprzebiegowe testy krokowe
Streszczenie: Pamięć półprzewodnikowa jest kluczowym elementem szeroko rozumianych współczesnych systemów i układów elektronicznych. Procentowy udział podłoża krzemowego przeznaczonego na różne kategorie pamięci w systemach typu SoC (ang. System on Chip) jest obecnie na poziomie 90%. Jak podaje dostępna literatura, najczęstszym defektem, będącym źródłem nieprawidłowego działania pamięci, jest niezamierzona interakcja pomiędzy poszczególnymi jej komórkami. Modelem takiego defektu na poziomie funkcjonalnym jest uszkodzenie uwarunkowane zawartością (ang. Pattern Sensitive Fault – PSF). W trakcie seminarium zostaną przedstawione opracowane techniki testowania pamięci umożliwiające wysoki stopień pokrycia uszkodzeń PSF. Analizowane podejście oparte jest o wieloprzebiegowe testy krokowe (ang. march tests). Zostaną zaprezentowane wyniki prac uzyskane zarówno dla przypadku zróżnicowania sekwencji adresowych jak również zróżnicowania zawartości pamięci.